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Nano-scale CMOS를 위한 Ni-germano Silicide의 열 안정성 연구
황빈봉, 오순영, 윤장근, 김용진, 지희환, 김용구, 왕진석, 이희덕, Huang. Bin-Feng, Oh. Soon-Young, Yun. Jang-Gn, Kim. Yong-Jin, Ji. Hee-Hwan, Kim. Yong-Goo, Wang. Jin-S 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 7 Pages
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 2004, Vol.17 No.11 1149-1155 (7 pages)


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