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SIL을 이용한 근접장 기록계에서의 서보 방식의 개발
김중곤, 김태훈, 정준, 박노철, 양현석, 박영필, Kim. Joong-Gon, Kim. Tae-Hun, Jeong. Jun, Park. No-Cheol, Yang. Hyun-Seok, Park. Young-Pil 정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 4 Pages
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 2007, Vol.3 No.1 1-4 (4 pages)
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초정밀가공기를 이용한 SIL 렌즈의 절삭특성
원종호, 박원규, 김주환, 김건희, Won. Jong-Ho, Park. Won-Kyoo, Kim. Ju-Hwan, Kim. Geon-Hee 한국기계가공학회 한국기계가공학회지 6 Pages
한국기계가공학회 한국기계가공학회지 2003, Vol.2 No.1 63-68 (6 pages)
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근접장 기록을 위한 디스크의 광학적 특성
민철기, 박노철, 박경수, 박영필, Min. Cheol-Ki, Park. No-Cheol, Park. Kyoung-Su, Park. Young-Pil 정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 6 Pages
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 2009, Vol.5 No.2 64-69 (6 pages)
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광근접장 현미경의 원리 및 응용
윤형길, 이준희, 권대갑 한국정밀공학회 한국정밀공학회지 7 Pages
한국정밀공학회 한국정밀공학회지 2000, Vol.17 No.6 46-52 (7 pages)
산업사회가 발전하면서 초정밀 분야의 측정기술 또한 시대적 요구에 걸맞게 발전을 거듭하고 있다. 광을 이용한 측정기술에 있어서 보다 작은광 스팟의 구현은 높은 분해능을 위해서 필수 불가결한 조건이며, 광 기록분야에 있어서는 높은 기록밀도를 위해 핵심적인 기술이다. 하지만 스팟의 직경은 광의 회절한계(diffraction limit)에 의한 최소치를 갖는다. 예로서, 측정을 위한 광학 현미경 중 현재 일반적으로 널리 쓰이는 고배율 광학 현미경(high resolution optical microscope)은 측정 대상 표면에 물리적 손상을 주지 않으며,...