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Ge25Se75-based ReRAM 소자의 전계에 의한 저항 변화에 대한 연구
김장한, 남기현, 정홍배, Kim. Jang-Han, Nam. Ki-Hyun, Chung. Hong-Bay 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 5 Pages
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 2012, Vol.25 No.3 182-186 (5 pages)
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차세대 Resistance 메모리 (ReRAM) 소자의 최근의 연구 동향
이동수, 심현준, 황현상 대한전자공학회 電子工學會誌 12 Pages
대한전자공학회 電子工學會誌 2005, Vol.32 No.2 15-26 (12 pages)
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상온에서 RF 스퍼터링 방법으로 증착한 Hafnium Oxide 박막의 저항 변화 특성
한용, 조경아, 윤정권, 김상식, Han. Yong, Cho. Kyoung-Ah, Yun. Jung-Gwon, Kim. Sang-Sig 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 3 Pages
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 2011, Vol.24 No.9 710-712 (3 pages)
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Volatile Nickel Aminoalkoxide Complexes as Liquid Precursors for Non-volatile Memory Device of NiO Films by ALD
Chung. Taek-Mo, Lee. Sun-Sook, Cho. Won-Tae, Kim. Min-Chan, Lee. Young-Kuk, Hwang. Jin-Ha, An. Ki-Seok, Kim. Chang-Gyoun 대한화학회 Bulletin of the Korean Chemical Society 2 Pages
대한화학회 Bulletin of the Korean Chemical Society 2011, Vol.32 No.3 783-784 (2 pages)


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