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이온 충돌에 의한 저온 확산
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  • 이온 충돌에 의한 저온 확산
저자명
이희용
간행물명
電子工學會誌
권/호정보
1974년|11권 1호|pp.33-39 (7 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

이온의 충돌에 위한 주입자의 저온광산식 주입방법과 아울러 그 장치의 구조를 초개하였다. 본주입작용은 희석된 건기의 푸라주마분국기내에서의 저에너지 입자의 충돌과 기판의 예용가열에 의한 방사증식철산의 원리에 봉로 기인되고 있다. 본법입방식에 의해서 각종주입자를 영도체들속에 법입시켜 본 결과도 또한 나타나 있다.

기타언어초록

A method of dopant implantation by low temperatme diffusion with ion collisions as well as the mechanism of its apparatus is to be introduced. The implantillg function is mainly based on the Principle of radiation enhanced diffusion due to the collisions of low energy Particles and the preheating of the substrate in an environment of rarefied air plasma. The implanted results of various dopants into semicondctors by the Implanter are also presented.