- VLSI 시험기법 소개
- ㆍ 저자명
- 장종권
- ㆍ 간행물명
- 전기학회지= The Processing of the Institute of Electrical Engineers
- ㆍ 권/호정보
- 1991년|40권 6호|pp.30-37 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전기학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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본 고에서는 먼저 chip 기술의 발전 경향을 살펴본 후, 기존 ATPG의 개념과 기법을 알아보고 DL의 개념 및 용도를 소개한 후 DFT의 세가지 주요기법:Ad-hoc기법, Structured기법 및 self-test 기법에 대하여 기술하고자 한다.