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패키지형태에 따른 반도체소자의 고장률예측
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  • 패키지형태에 따른 반도체소자의 고장률예측
저자명
주철원,이상복,김성민,김경수,Ju. Cheol-Won,Lee. Sang-Bok,Kim. Seong-Min,Kim. Gyeong-Su
간행물명
전자통신동향분석
권/호정보
1991년|6권 3호|pp.3-12 (10 pages)
발행정보
한국전자통신연구원
파일정보
정기간행물|
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주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

현재 전자장비는 대부분 반도체소자로 구성되어 있어 이들 소자의 신뢰성이 매우 중요하다. 반도체소자의 신뢰성은 고장률로 표현되는데 실질적인 고장률은 사용현장에서 수집된 데이터에서 산출되지만 데이터 수집기간이 길고, 고장원인이 불분명하며, 수적으로도 빈약한 실정이다. 따라서 본고에서는 MIL-HDBK-217E의 고장률예측 모델을 이용하여 반도체소자를 제조기술, 패키지형태, 칩접착 상태별로 구분하여 고장률을 산출하였다.