- 반도체의 비선형 분광학
- ㆍ 저자명
- 박승한
- ㆍ 간행물명
- 한국광학회지
- ㆍ 권/호정보
- 1992년|3권 4호|pp.280-287 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국광학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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반도체와 반도체 미세구조의 비선형 광학적 특성은 기존의 전자소자가 안고 있는 한계를 보완 혹은 극복학 수 있는 초고속 광소자의 개발 가능성을 제시하고 있을 뿐만 아니라 그 자체가 매우 흥미로운 물리 현상이라는 관점에서 현재 많은 주목을 받고 있다. 본 논문에서는 이와같은 반도체 물질의 특성 및 성능 평가를 위한 기초 핵심 기술인 비선형 분광학 기법 중 비선형성의 크기를 측정하는 정상상태 분광기법들과 운반자의 수명시간 및 과도현상을 측정하는 시간분해 분광기법들을 간단하게 살펴 보았다.
The nonlinear optical properties of semiconductors and semiconductor microstructures have been the subject of intense research, not only from a fundamental physics point of view, but also for their potential applications to future opto-electronic devices. In this paper, steady-state and time-resolved nonlinear optical spectroscopic techniques to investigate the microscopic world of semiconductor materials were briefly described.