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박막의 전기적 특성평가를 위한 측정 시스템의 구성 및 자동화
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  • 박막의 전기적 특성평가를 위한 측정 시스템의 구성 및 자동화
저자명
구경완,황문수,천희곤
간행물명
韓國眞空學會誌
권/호정보
1992년|1권 3호|pp.371-375 (5 pages)
발행정보
한국진공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Low cost, PC controlled electrical property measurement systems were constructed to study thin film characteristics such as ; I-V, C-V, C-t, and low current. In addition, a GPIB card and C language program for data control and analysis were made for this study.