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Surge 시험 기술 기준에 대한 고찰
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  • Surge 시험 기술 기준에 대한 고찰
저자명
양윤석,위규진
간행물명
電磁波技術 : 韓國電磁波學會誌
권/호정보
1993년|4권 2호|pp.55-72 (18 pages)
발행정보
한국전자파학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

기술의 발달과 정보화 사회로의 이행은 각종 전기, 전자 기기 사용의 양적, 질적 증가를 가져 왔으며 이에 따른 불요 전자파는 전기, 전자 기기 상호간의 장해, 인체에의 유해 등 기술적, 사회적 문제로 나타나 고 있다. 따라서, 전자파 환경을 보호하기 위하여 전자파 장해 검정 제도가 국, 내외 적으로 시행되고 있으며 또한 열악한 전자파 환경에서 정상적인 동작을 보장하기 위한 전자파 내성이 요구되고 있다. 이러한 전자파 내성을 국제 전기 표준 위원회(IEC)에서는 그 원인에 따라 ESD 내성(정전기 방전), 방사 내성, EFT 내성(급격한 과도 현상), Surge 내성, 전도 내성 등으로 분류하고 있으며 원인별 시험 기술기준도 작성되고 있다. (IEC 801 시리즈)