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반도체가 첨가된 유리의 암색화에 따른 포화흡수 변화와 영구 회절격자의 회절효율 연구
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  • 반도체가 첨가된 유리의 암색화에 따른 포화흡수 변화와 영구 회절격자의 회절효율 연구
저자명
백성현,신상훈,김상천,최문구,박승한,김웅
간행물명
한국광학회지
권/호정보
1995년|6권 4호|pp.331-336 (6 pages)
발행정보
한국광학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

미세 반도체가 첨가된 유리에 암색화에 따른 정상상태 포화흡수 변화를 조사하였고 축퇴 4광파 혼합 실험으로 영구 회절격자를 형성시켜 회절 효율을 연구하였다. 사용된 레이저는 Q-switch된 Nd:YAG레이저의 제2조화파로 펼스폭은 15ns이었다. 시료가 암색화된에 따라 포화 흡수세기 $I_s$는 증가하였고, 축퇴 4광파 혼합 실험 장치로부터 전방 펌프빔과 조사빔에 의한 큰 간격의 영구 회절격자를 형성하여 후방 펌프빔의 세기에 따라 회절 되어 나오는 빛의 세기를 측정하였다. 영구 회절격자는 암색화 현상에 의한 것으로 회절효율은 회절 되는 후방 펌프빔의 세기가 크지 않을 때 그 세기에 비례하는데, 이는 암색화에 의해 형성된 회절격자 사이의 흡수 차이에 의한 것임을 알 수 있었다.

기타언어초록

The steady-state absorption saturation of the photodarkend SDG was investigated. The absorption saturation intensity was observed to increase for the photodarkened sample. The diffraction efficiency of the permanent grating due to photodarkening was also measured using the backward DFWM technique. For the low backward pump intensity, the diffraction efficiency was proportional to the intensity of the pump beam. The origin of increasing diffraction efficiency is attributed to the difference in absorption between the permanent gratings created by photodarkening. ening.