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TEMPERATURE DEPENDENCE OF DIELECTRIC BREAKDOWN CHARACTERISTICS IN DGEBA-MDA-SN SYSTEM BY FRACTAL ANALYSIS
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  • TEMPERATURE DEPENDENCE OF DIELECTRIC BREAKDOWN CHARACTERISTICS IN DGEBA-MDA-SN SYSTEM BY FRACTAL ANALYSIS
  • TEMPERATURE DEPENDENCE OF DIELECTRIC BREAKDOWN CHARACTERISTICS IN DGEBA-MDA-SN SYSTEM BY FRACTAL ANALYSIS
저자명
Cho. Y.S.,Shim. M.J.,Kim. S.W.
간행물명
Fabrication and Characterization of Advanced Materials
권/호정보
1995년|1권 3호|pp.539-544 (6 pages)
발행정보
한국재료학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Temperature dependence of the long term deterioration phenomena associated with electrical tree in DGEBA-MDA-SN epoxy resin system under inhomogeneous high electric field wer investigated quantitatively from the viewpoint of fractal analysis. The fractal dimensions were calculated by using scale convering method. The tree structures longer than specific length had fractal properties regardless of applied voltage and ambient temperature. The fractal dimension increased with increasing tree length and saturated at 1.5 to 1.7