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EFFECT OF Ti$O_2$ LAYER AT BST/pt INTERFACE
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  • EFFECT OF Ti$O_2$ LAYER AT BST/pt INTERFACE
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저자명
Paek. S.H.,Won. J.H.,Jang. J.E.
간행물명
Fabrication and Characterization of Advanced Materials
권/호정보
1995년|2권 |pp.1051-1056 (6 pages)
발행정보
한국재료학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Improvement of electric property of degraded(Ba, Sr)$TiO_3$ thin film due to $TiO_2$layer has been investigated. SBT thin film was deposited on Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrate by RF magnerton sputter suing insitu process. Undersirable layer with low dielectric constant, $TiO_2$, at BST/Pt interface was confirmed by AES depth profile, XRD. Electric properties of BST thin film were improved by removing $TiO_2$ layer. Excess BaO and SeO were added to BST target for supplement of deficient Ba, Sr content in BST thin film. As the (Ba+Sr)/Ti ratio variation, the $TiO_2$ layer was removed and the dielectrci property of BST thin film was improved. At (Ba+Sr)/Ti=1.05, dielectric constant showed its highst value of 510. The leakage current of BST was almost independent of the existence of $TiO_2$ layer.