일정스트레스 가속수명시험에서 제품의 수명이 대수정규분포를 따르고 위치모수와 척도모수 모두가 스트레스의 영향을 받는다고 하자. 설계 스트레스 조건에서 대수정규분포의 백분위수의 최우추정량의 점근분산이 최소가 되는 낮은 수준의 최적의 스트레스의 양과 최적의 표본할당비율을 모수의 여러 가지 경우에 대해서 연구한다.
This paper on planning constant accelerated life test is assumed that parameters for a lognormal life distribution are depended on changes of stresses. The proposed test plans are optimum in that they minimize the asymptotic variance of maximum likelihood estimator of a specified quantile at the design stress. The optimal amount of low stress level ${xi}_{L}$ and optimal sample proportion ${pi}$ to be allocated at low stress level are obtained when the ratio of scales at high stress level and design stress level is unknown.
