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가중증상모델과 패턴매칭을 이용한 화학공정의 이상진단
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  • 가중증상모델과 패턴매칭을 이용한 화학공정의 이상진단
  • Fault diagnosis for chemical processes using weighted symptom model and pattern matching
저자명
오영석,모경주,윤종한,윤인섭,Oh. Young-Seok,Mo. Kyung-Ju,Yoon. Jong-Han,Yoon. En-Sup
간행물명
제어·자동화·시스템공학 논문지
권/호정보
1997년|3권 5호|pp.520-525 (6 pages)
발행정보
제어로봇시스템학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper presents a fault detection and diagnosis methodology based on weighted symptom model and pattern matching between the coming fault propagation trend and the simulated one. In the first step, backward chaining is used to find the possible cause candidates for the faults. The weighted symptom model is used to generate those candidates. The weight is determined from dynamic simulation. Using WSM, the methodology can generate the cause candidates and rank them according to the probability. Second, the fault propagation trends identified from the partial or complete sequence of measurements are compared with the standard fault propagation trends stored a priori. A pattern matching algorithm based on a number of triangular episodes is used to effectively match those trends. The standard trends have been generated using dynamic simulation and stored a priori. The proposed methodology has been illustrated using two case studies, and the results showed satisfactory diagnostic resolution.