측선 전체에 걸쳐 표토층이 두껍게 덮여 있어서 지질조사에 의한 단층의 확인이 용이하지 않은 두 지역에서 측선을 교차하는 단층의 위치와 그의 심부 발달 상태를 밝히고자 array CSAMT탐사를 수행하였다. 측선 직하부의 전기비저항 단면도에서 전기비저항 분포의 급격한 횡적 불연속을 나타내거나 또는 높은 함수율로 인해 어느 정도의 폭을 갖으며 저비저항대로 표출되는 부분을 단층 또는 단층파쇄대로 해석한 후, 이에 대한지질학적 증거를 확보하기 위하여 재차 지질조사를 수행하였다. 주변의 노출된 단층의 위치를 내$cdot$외삽 하거나 단층으로 해석한 동일 위치에서 최근의 토목공사로 인해 우연히 노출된 단층의 증거를 확보하고 array CSAMT 탐사의 단층 조사에 대한 적용성을 확인할 수 있었다. 일부 측선에 대하여는 동일 측선에서 수행된 쌍극자-쌍극자배열 전기비저항탐사 결과를 array CSAMT 탐사 결과와 대비하여 단층 조사에 대한 양자의 적용성을 비교하였다.
Array CSAMT surveys were conducted in two areas where it was not easy to identify the presence of faults only with geological survey because of thick overburden. The purpose of these surveys were to locate the faults and to delineate the deep resistivity structures around the faults. The steep dip lineaments having high contrast in resistivity laterally and the low resistive zones having some width in the resistivity sections were interpreted as faults and fracture zones associated with faults, respectively, The good applicability of array CSAMT to the investigation of fault was recognized owing to the agreement between the interpretation results of array CSAMT and the conclusive evidences collected by the following geological survey. The evidences includes the recent exposure of fault and the trajectory of fault evidences of the survey line. A comparison of the applicabilities of array CSAMT method and the resistivity method using dipole-dipole array was presented with the results of both methods along a same traverse line.
