- 준탄성광산란을 이용한 0.3 $mu extrm{m}$ 폴리스티렌구의 평균지름 측정 불확도 향상
- ㆍ 저자명
- 박병천,정명세
- ㆍ 간행물명
- 한국광학회지
- ㆍ 권/호정보
- 1998년|9권 4호|pp.258-263 (6 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국광학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
준탄성광산란(QELS)을 이용하여 지름이 0.3$mu extrm{m}$인 폴리스티렌구의 평균지름을 측정하였다. 폴리스티렌구가 표준입자로 사용되기 위하여는 평균지름의 불확도가 수 % 이내가 되어야 한다. 본 연구에서는 QELS장차중 시료용기의 정렬방법 및 온도측정방법을 특별히 보완하여 계통오차를 대폭 줄였다. 표준입자 인증물질인 NIST SRM 1691 (0.269$pm$0.007$mu extrm{m}$: TEM; 0.275$pm$0.007$mu extrm{m}$:QELS)을 측정하여 평균지름이 0.2730.006$mu extrm{m}$ 인 결과를 얻었다. 개선된 측정방법 및 측정불확도를 상세히 기술하였으며 NIST의 측정결과와 비교하였다.
Quasi-elastic light scattering is utilized to measure the mean diameter of the 0.3 $mu extrm{m}$-dimeter polystyrene sphere. The mean diameter of the polystyrene sphere is required to be known within the uncertainty of a few per centages. The systematic error has been considerably reduced by improving the system for the angle alignment and temperature measurement of cell. NIST SRM 1691 (0.269$pm$0.007 $mu extrm{m}$: TEM; 0.275$pm$0.007 $mu extrm{m}$: QELS) is measured to be 0.273 $mu extrm{m}$$pm$0.006 $mu extrm{m}$ in mean diameter. Detailed description is given of the improved method and the resultant uncertainty, and the comparison of results with NIST is followed.