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비정규 공정에 대한 공정능력의 새로운 측도: $C_{psk}$
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  • 비정규 공정에 대한 공정능력의 새로운 측도: $C_{psk}$
저자명
김홍준,송서일
간행물명
品質經營學會誌
권/호정보
1998년|26권 1호|pp.48-60 (13 pages)
발행정보
한국품질경영학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper proposes a fourth generation index $C_{psk}$, constructed from $C_{psk}$</TEX>, by introducing the factor|$mu$-T| in the numerator as an extra penalty for the departure of the process mean from the preassigned target value T. The motivation behind the introduction of $C_{psk}$ is that when $T eqM$ process shifts away from target are evaluated without respect to direction. All indices that are now in use assume normally distributed data, and any use of the indices on non-normal data results in inaccurate capability measurements. In this paper, a new process capability index $C_{psk}$</TEX> is introduced for non-normal process. The Pearson curve and the Johnson curve are selected for capability index calculation and data modeling the normal-based index $C_{psk}$ is used as the model for non-normal process. A significant result of this research find that the ranking of the six indices, $C_{p}$, $C_{pk}$, $C_{pm}$, ${C^*}_{psk}$, $C_{pmk}$, $C_{psk}$in terms of sensitivity to departure of the process median from the target value from the most sensitive one up to the least sensitive are $C_{psk}$, $C_{pmk}$, ${C^*}_{psk}$,$C_{pm}$, $C_{pk}$, $C_{p}$.