본 논문에서는 8빔 압저항형 가속도센서에서 하나 이상의 빔이 파손되는 대부분의 경우에 대하여 에러신호를 검출할 수 있는 자기진단회로를 구현하고, 이를 PSPICE를 사용하여 시뮬레이션으로 그 기능을 확인하였다. 또한 현재 상용으로 나오는 KA 324 증폭기의 레이아웃을 사용하여 자기진단회로를 표준 바이폴라(bipolar)공정을 이용하여 IC칩으로 제조하고, 24핀 플라스틱 패키지 한 후 자기진단 특성을 조사하였다. 이때, 측정된 회로의 자기진단 특성을 시뮬레이션 결과와 비교하였다.
In this paper, we have constructed a self-diagnostic circuit which could detect erroneous signals in most cases that a eight-beam piezoresistive accelerometer were destroyed more than its one beam. To confirm the function of the circuit, PSPICE simulation was carried out. An IC chip was fabricated with a layout of KA 324 amplifier using a bipolar standard processing. After a package of the chip was sealed using a plastic package with 24 pins, the self-diagnostic characteristics were investigated. Then, the measured self-diagnostic characteristics of the circuit were compared with the PSPICE simulated result.
