적합성 시험은 프로토콜 구현물인 IUT(Implementation Under Test)가 프로토콜 규격과 일치하는지를 검증하는 것으로, 이 적합성 시험의 질은 생성된 시험열에 의존한다. 기존에는 시험열 생성이 수작업으로 이루어지기 때문에 오류의 가능성을 내포한다. 본 논문에서는 자동화된 툴(tool)인 Design/CPN을 이용하여 SDL(Specification and Description Language)로 기술된 프로토콜의 시험열을 생성한다. SDL로 기술된 프로토콜을 자료흐름을 고려한 CPN(Colored Petri Nets)으로 변환 후 Design/CPN에 입력하여 자동 생성된 OG(Occurrence Graph)와 디스크립터 (descriptor)로부터 시험열을 생성함으로써, 기존의 시험열 생성 방법에 비해 오류 가능성을 줄일 수 있으며, 자료 흐름이 고려된 시험열을 얻을 수 있다.