본 논문에서는 다이나믹 래치 형태의 비교기의 입력 오프셋을 줄이는 효과적인 방법을 제안한다. 기존 논문에서 고려된 원하지 않는 정궤환에 의한 오프셋 뿐 아니라, charge injection 부정합에 따른 오프셋을 정확하게 분석하였으며 이를 최소화하기 위하여 샘플링 구간 전에 비교기 양 입력단을 같은 전압으로 초기화하기 위한 수위치를 추가하였다. 제안된 회로는 0.65${mu}m$ CMOS 공정 파라미터로 모의 실험 되었으며, 5v의 단일 전원 전압으로 동작하고, 200MHz 샘플링 주파수에서 5mV 이하의 오프셋 전압을 가진다. 특히 입력 저항을 $5k{Omega}$일 때 기존 논문에 비해 약 80%의 입력 오프셋이 개선됨을 모의 실험을 토하여 확인하였다.
In this paper, we propose an efficient technique to minimize the input offset of a dynamic latch comparator. We analyzed offset due to charge injection mismatching and unwanted positive feedback during sampling phase. The last one was only considered in the previous works. Based on the analysis, we proposed a modified dynamic latch with initialization switch. The proposed circuit was simulated using 0.65${mu}m$ CMOS process parameter with 5v supply. The simulation results showed that the input offset is less than 5mV ant 200MHz sampling frequency and the input offset is improved about 80% compared with previous work in $5k{Omega}$ input resistance.
