코이를 기초로 설계된 칩을 테스팅 하기 위해서는 각 코어로의 테스트 데이터 접근을 위해 완전히 분리 링 필요하다. 부분 분리 링은 코어를 둘러싸고 있는 분리 링의 크기를 줄이고 분리 링으로써의 역할을 모두 수행한다. 본 논문에서는 기존의 방법들보다 부분 분리 링의 크기를 더욱 작게 하고 해법을 찾는 데 걸리는 시간보다 줄일수 있는 효율적인 방법을 제시한다. 이를 위해 테스트 가능도에 기반을 둔 효율적인 순위 결정 기법을 적용하였으며 SOC 테스팅의 특성을 살린 정렬 기법을 적용하였다. 실험결과에서 기존의 방법들보다 본 논문에 제시된 방법이 실제로 유용하다는 것을 보여준다.
Testing a core-based designed chip requires a full isolation ring to provide fro core test data access to each core. A partial isolation ring replaces the full isolation ring reducing total isolation ring size surrounding. This paper proposes an efficient method to reduce the size of the partial isolation ring and shorten the time to acquire the final solution. For this, a reasonable ordering technique according to testability is introduced and a sorting technique is adopted to reduce the total solution time. Experimental results show that the proposed method can be useful in practice
