- 6H-SiC $p^{+}n$ 접합의 항복 전압을 위한 해석적 모형
- ㆍ 저자명
- 정용성,Jeong. Yong-Seong
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
- ㆍ 권/호정보
- 2001년|38권 6호|pp.398-403 (6 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
본 논문에서는 6H-SiC의 유효 이온화 계수를 추출하였고, 이 이온화 계수를 이용하여 6H-SiC p+n 접합의 해석적 항복 전압 식을 유도하였다. 해석적 항복 전압 결과는 1015 cm-3 ∼ 1018 cm-3의 농도 범위에서 Dmitriev의 수치적 결과[3] 및 Cree Research의 실험 결과[9]와 비교하여 잘 일치하였다.
In this paper, effective ionization coefficient for 6H-SiC is determined. Analytical formulas for the parallel plane breakdown voltage of the 6H-SiC p+n junction are derived by employing the ionization coefficients. The analytical breakdown voltages show good agreement with the numerical results of Dmitriev's[3]and the experimental results of Cree Research[9]over the doping range from 10$^{15}$ cm$^{-3}$ to 10$^{18}$ cm$^{-3}$.