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6H-SiC $p^{+}n$ 접합의 항복 전압을 위한 해석적 모형
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  • 6H-SiC $p^{+}n$ 접합의 항복 전압을 위한 해석적 모형
저자명
정용성,Jeong. Yong-Seong
간행물명
電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
권/호정보
2001년|38권 6호|pp.398-403 (6 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

본 논문에서는 6H-SiC의 유효 이온화 계수를 추출하였고, 이 이온화 계수를 이용하여 6H-SiC p+n 접합의 해석적 항복 전압 식을 유도하였다. 해석적 항복 전압 결과는 1015 cm-3 ∼ 1018 cm-3의 농도 범위에서 Dmitriev의 수치적 결과[3] 및 Cree Research의 실험 결과[9]와 비교하여 잘 일치하였다.

기타언어초록

In this paper, effective ionization coefficient for 6H-SiC is determined. Analytical formulas for the parallel plane breakdown voltage of the 6H-SiC p+n junction are derived by employing the ionization coefficients. The analytical breakdown voltages show good agreement with the numerical results of Dmitriev's[3]and the experimental results of Cree Research[9]over the doping range from 10$^{15}$ cm$^{-3}$ to 10$^{18}$ cm$^{-3}$.