- 다중 전송선에 영향을 받는 Crosstalk 잡음을 위한 테스트 생성
- ㆍ 저자명
- 이영균,양선웅,김문준,장훈,Lee. Young-Gyun,Yang. Sun-Woong,Kim. Moon-Joon,Chang. Hoon
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
- ㆍ 권/호정보
- 2002년|39권 9호|pp.28-36 (9 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
