본 논문에서는 최근 많은 연구대상이 되고 있는 oscillation test methodology (OTM)의 파라메트릭 고장에 대한 커버리지를 높일 수 있는 방법을 제안한다. OTM은 테스트 입력신호가 별도로 필요없는 장점으로 인해 효율적인 built-in self test (BIST) 기술로서도 많은 관심의 대상이 되어 왔다. 그러나 아직 여러 가지 면에서 좀더 연구개발이 필요한 상태이며, 따라서 본 논문에서는 그 성능을 향상시킬 수 있는 방안을 제안한다.
We propose a new technique to improve the parametric fault coverage of oscillation test method (OTM). The OTM has been popular as a vectorless scheme for analog circuit test, both as a general defect-oriented technique, as well as an oscillation built-in self- test (BIST) scheme. However, it still requires improvement in several aspects. This paper analyzes the limitation of OTM, and proposes new signature analysis scheme to improve its performance.
