기관회원 [로그인]
소속기관에서 받은 아이디, 비밀번호를 입력해 주세요.
개인회원 [로그인]

비회원 구매시 입력하신 핸드폰번호를 입력해 주세요.
본인 인증 후 구매내역을 확인하실 수 있습니다.

회원가입
서지반출
MMIC에 적용되는 MIM 커패시터의 실리콘 질화막 증착과 전기적 특성
[STEP1]서지반출 형식 선택
파일형식
@
서지도구
SNS
기타
[STEP2]서지반출 정보 선택
  • 제목
  • URL
돌아가기
확인
취소
  • MMIC에 적용되는 MIM 커패시터의 실리콘 질화막 증착과 전기적 특성
저자명
성호근,소순진,박춘배
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2004년|17권 3호|pp.283-288 (6 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
서지반출

기타언어초록

We have fabricated MIM capacitors for MMIC applications, with capacitances as high as 600pF/$ extrm{mm}^2$ and excellent electrical properties of the insulator layer. Silicon nitride thin film is the desirable material for MMIC capacitor fabrication. Standard MIM capacitance in MMIC is 300pF/$ extrm{mm}^2$ with an insulator layer thickness of more than 2000$AA$. However, capacitors with thin insulator layers have breakdown voltages as low as 20V. We have deposited insulator layers by PECVD in our MIM structure with an air bridge between the top metal and the contact pad. The PECVD process was optimized for fabricating the desired capacitors to be used in MMIC. Silicon nitride(Si$_{x}$N$_{y}$) thin films of about 1000$AA$ thick show capacitances of about 600pF/$ extrm{mm}^2$, and breakdown voltages above 70V at 100nA.A.A.