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액정 소자의 열적 안전성에 관한 연구
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  • 액정 소자의 열적 안전성에 관한 연구
저자명
이상극,황정연,서대식,이준웅
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2004년|17권 4호|pp.439-442 (4 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this study, we investigated about electrooptics characteristic of three kinds of TN cell on the polyimide surface. Monodomain alignments of thermal stressed TN cell over temperature of liquid crystal isotropic phase were almost the same as that of no thermal stressed TN cells. However, the thermal stressed TN cells have many defects. Also, threshold voltage and response time of thermal stressed TN cells show the same performances as no thermal stressed TN cells. There were little changes of value in these TN cells. However, transmittances of TN cells on the polyimide surface decrease with increasing thermal stress time. Finally, the residual DC voltage of the thermal stressed TN cell on the polyimide surface shows decrease of characteristics as increasing thermal stress time. Therefore, the thermal stability of TN cell was decreased by high thermal stress for the long times.