SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발

SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발

ㆍ 저자명: 김용준,김지혜,전성훈,강성호
ㆍ 간행물명: 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
ㆍ 권/호정보: 2004년|41권 4호|pp.113-122 (10 pages)
ㆍ 발행정보: 대한전자공학회
ㆍ 파일정보: 정기간행물|
PDF텍스트
ㆍ 주제분야: 기타

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서지반출

기타언어초록

본 논문에서는 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 방안을 제안한다. 제안된 고장 진단 방안은 FPGA의 연결선에 존재하는 모든 고장을 진단한다. 또한 이는 최신의 FPGA 장치인 Xilinx Virtex FPGA에 적용이 가능하다. 제안된 고장 진단 방안은 기존의 고장 진단 방안에 비하여 훨씬 짧은 시간동안 고장 진단을 수행한다.

기타언어초록

A new diagnosis method for FPGA interconnects is developed. The proposed method diagnoses all the fault types for FPGA interconnects. It is also applied to all the modem FPGA devices like Xilinx Virtex FPGAS. Most of all, it takes shorter time to diagnose all the faults than previous diagnosis methods.

키워드

FPGA 테스트 연결선 테스트 고장진단

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