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A New State Assignment Technique for Testing and Low Power
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저자명
Cho. Sang-Wook,Park. Sung-Ju
간행물명
電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
권/호정보
2004년|41권 10호|pp.9-16 (8 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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영문초록

유한상태기의 상태할당은 이로부터 구현되는 순차회로의 속도, 면적, 테스팅 및 소비전력에 큰 영향을 미친다. 본 논문에서는 상태변수 그룹들 사이에 상호 의존성(dependency)을 최소화하여 테스팅 및 전력소모를 개선하기 위한 m-블록 분할을 이용한 새로운 상태할당 기술을 소개한다. 제안된 알고리듬은 상태들을 그룹으로 나누어 상태변수의 상호의존성을 줄이고, 상태천이 확률에 의해 결정된 무게인자에 따라 상태 간 상태변수의 변화를 최소로하는 코드를 할당하여 상태 천이시 스위칭 횟수를 줄인다. 즉 피드백 순환의 길이와 수는 상태 변수들 간에 최소 전환 활동으로 감소됩니다 벤치마크 회로에 대한 실험결과는 테스팅 및 소비전력이 현저히 개선되었음을 확인하였다.

기타언어초록

The state assignment for a finite state machine greatly affects the delay, area, power dissipation, and testabilities of the sequential circuits. In order to improve the testabilities and power consumption, a new state assignment technique based on m-block partition is introduced in this paper. The algorithm minimizes the dependencies between groups of state variables are minimized and reduces switching activity by grouping the states depending on the state transition probability. In the sequel the length and number of feedback cycles are reduced with minimal switching activity on the state variables. Experiment shows significant improvement in testabilities and Power dissipation for benchmark circuits.