본 논문에서는 내장 코어 기반 SOC의 테스트를 위한 새로운 테스트 전략을 제안한다. SOC 테스트는 전체 테스트 시간을 얼마나 줄일 수 있는가에 따라서 그 성능을 평가할 수 있다. SOC를 구성하는 코어에 대한 테스트 시간은 코어에 구성된 테스트 래퍼 구조에 의해서 결정되며, 테스트 래퍼는 TAM을 사용하기 때문에 결국 TAM에 할당되어 있는 스캔 체인의 길이에 의해서 결정된다. 따라서 SOC 설계 단계에서 테스트를 고려한 설계가 이뤄져야 하며 효율적인 테스트를 위해서는 테스트 전략을 잘 세워야 한다. 기존의 테스트 기법은 모두 SOC 전체 TAM 라인들을 몇 개의 그룹으로 나누고 코어에 할당된 스캔 체인들을 TAM 라인에 적절히 분배해서 코어의 테스트 시간과 SOC 전체의 테스트 시간을 모두 최소화 할 수 있는 구조를 만드는 방법이었다 하지만 이는 NP 문제로 모든 조합에 대한 시도를 통해서 최적의 곁과를 찾는 것이 불가능하다. 본 논문에서는 이 문제에 대한 새로운 방법을 제안하고 그 효율성을 증명한다.
A new test strategy for embedded SOC test is proposed. The SOC test is evaluated by the degree that is the amount of the total reduced test time. Since the test time for a embedded core is determined by the configuration of test wrapper, the total test time is decided by the length of the largest TAM used by the test wrapper. So the DFT(Design for Test) must be involved in the design flow. And the efficient test strategy must be settled. The all Previous test strategies are the methods that find a sub-optimal configurations of scan-chains to minimize the test time after the total TAM lines are divided into a few groups. But this is the NP-complete problem so that all attempts which examine such a TAM configuration and scan-chain division are impossible. In this thesis, a new methodology for this problem is proposed and the efficiency of the methodology is proved.
