전자기장을 유도하는 원리를 기초로 한 새로운 비파괴탐상법인 FEF법을 개발하였다. 이 탐상법은 전자기장을 유도하는 유도선과 이를 감지하는 감지부로 구성되어 있고, 비접촉 방식으로 탐상을 실시한다. 본 연구는 알루미늄합금, 스테인레스강과 인코넬 합금강의 재료에 방전 가공한 결함에 대하여 결함 검출 및 결함 깊이에 대한 평가를 실시하였다. 결함이 없는 영역에서의 측정전압은 lift-off에 의존한다. 결함영역에서 탐촉자가 결함에 가까이 접근할수록 전압은 증가하고, 결함위치에서 최고전압으로 측정되며, 이 최고치는 결함의 깊이에 따라 변화한다. 각 재료에 대한 전압분포 같은 경향으로 측정된다.
FEF(Focused Electromagnetic Field) technique was newly developed that is based on the induction principle exciting electromagnetic field. The technique consists of an induction wire and a sensor for detecting electromagnetic field, and is applied in a non-contact mode. In this study, the technique was applied to the evaluation of EDM slits in some conductive materials - aluminum alloy, stainless steel and Inconel alloy. The voltage in the non-defect region is depended upon the measurement lift-off. The voltage signals on defects are measured with peak values, and the peak values changed with the depth of defects. The voltage distributions for all conductive materials are the same trend.
