- 5GHz 저잡음 증폭기를 위한 새로운 Built-In Self-Test 회로
- ㆍ 저자명
- 류지열,노석호,Ryu. Jee-Youl,Noh. Seok-Ho
- ㆍ 간행물명
- 한국해양정보통신학회논문지
- ㆍ 권/호정보
- 2005년|9권 5호|pp.1089-1095 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국해양정보통신학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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본 논문에서는 5GHz 저잡음 증폭기(LNA)의 성능 측정을 위한 새로운 형태의 저가 BIST(Built-In Self-Test) 회로를 제안한다 이러한 BIST 회로는 system-on-chip (SoC) 송수신 환경에 적용될 수 있도록 설계되어 있다. 본 논문에서 제안하는 BIST 회로는 입력 임피던스, 전압이득, 잡음지수, 입력반사손실(input return loss) 및 출력 신호 대 잡음전력비(signal-to-noise ratio)와 같은 저잡음 증폭기의 주요 성능 지수를 측정 할 수 있으며, 단일 칩 위에 제작되어 있다.
This paper presents a new low-cost Built-In Self-Test (BIST) circuit for 50Hz low noise amplifier (LNA). The BIST circuit is designed for system-on-chip (SoC) transceiver environment. The proposed BIST circuit measures the LNA specifications such as input impedance, voltage gaih, noise figure, and input return loss all in a single SoC environment.