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SOI 기판을 이용한 Thermal Probe 어레이 제작 및 특성 평가
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  • SOI 기판을 이용한 Thermal Probe 어레이 제작 및 특성 평가
저자명
조주현,나기열,박근형,이재봉,김영석,Cho. Ju-Hyun,Na. Kee-Yeol,Park. Keun-Hyung,Lee. Jae-Bong,Kim. Yeong-Seuk
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2005년|18권 11호|pp.990-995 (6 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper reports the fabrication and characterization of $5; imes;5$ thermal cantilever array for nano-scaled memory device application. The $5; imes;5$ thermal cantilever array with integrated tip heater has been fabricated with MEMS technology on SOI wafer using 7 photo masking steps. All single-level cantilevers have a diode in order to eliminate any electrical cross-talk between adjacent tips. Electrical measurements of fabricated thermal cantilever away show its own thermal heating mechanism. Thermal heating is demonstrated by the reflow of coated photoresist on the cantilever array surface.