기관회원 [로그인]
소속기관에서 받은 아이디, 비밀번호를 입력해 주세요.
개인회원 [로그인]

비회원 구매시 입력하신 핸드폰번호를 입력해 주세요.
본인 인증 후 구매내역을 확인하실 수 있습니다.

회원가입
서지반출
Effects of Asymmetric Distribution of Charged Defects on the Hysteresis Curves of Ferroelectric Capacitors
[STEP1]서지반출 형식 선택
파일형식
@
서지도구
SNS
기타
[STEP2]서지반출 정보 선택
  • 제목
  • URL
돌아가기
확인
취소
  • Effects of Asymmetric Distribution of Charged Defects on the Hysteresis Curves of Ferroelectric Capacitors
  • Effects of Asymmetric Distribution of Charged Defects on the Hysteresis Curves of Ferroelectric Capacitors
저자명
Lee. Kang-Woon,Kim. Yong-Il,Lee. Won-Jong
간행물명
마이크로전자 및 패키징 학회지
권/호정보
2005년|12권 3호|pp.219-226 (8 pages)
발행정보
한국마이크로전자및패키징학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
서지반출

기타언어초록

When a ferroelectric film has an inhomogeneous distribution of charged defects, a voltage shift in the polarization curve is induced by the internal field generated in the film. The direction and the magnitude of voltage shift in the P-V hysteresis curves obtained by the Sawyer-Tower method are different from those obtained by the virtual ground method. In this study, the asymmetric behavior in the P-V hysteresis curves of inhomogeneous ferroelectric films was investigated with a physical model and the polarization curves obtained by the Sawyer-Tower and the virtual ground methods are compared.