- 근접장 광기록 헤드의 광학적 성능 평가와 정렬 오차에 대한 간섭 무늬 패턴 분석에 대한 연구
- ㆍ 저자명
- 윤형길,권대갑,이준희,정재화,오형렬,Yoon. Hyoung Kil,Gweon. Dae Gab,Lee. Jun Hee,Jung. Jae Hwa,Oh. Hyung Ryeol
- ㆍ 간행물명
- 한국정밀공학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2005년|22권 5호|pp.80-86 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국정밀공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
