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단일입자 질량분석기를 애용한 서브마이크론 입자의 특성화(I) - 입자의 크기와 질량분광신호의 비선형성 -
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  • 단일입자 질량분석기를 애용한 서브마이크론 입자의 특성화(I) - 입자의 크기와 질량분광신호의 비선형성 -
저자명
이동근,Lee. Donggeun
간행물명
大韓機械學會論文集. Transactions of the Korean society of mechanical engineers. B. B
권/호정보
2005년|29권 4호|pp.453-459 (7 pages)
발행정보
대한기계학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, we are proposing a robust tool which is capable of measuring the size and elemental composition of submicron particles from twenty to several hundreds nanometers at the same time, i.e., named Single Particle Mass Spectrometer (SPMS). The home-made SPMS employs a laser ablation/multi-photon ionization method to tear a nanoparticle into the constituent elemental ions. One thing different from the conventional Aerosol Time-of-Flight Mass Spectrometer (ATOFMS) is the power of the ionization laser. Much strong laser used in this work makes it possible to generate elemental ions rather than molecular ions from a nanoparticle. Also the use of high power laser may guarantee a complete ionization of a particle, which was confirmed by the existence of multiple charged ions. If a particle is evaporated/ionized completely and detected through electric field-free TOF tube without any loss, we can extract the original particle volume from the measured total ion numbers. Collecting a number of particles mass spectra, we get a database of size and elemental composition of nanoparticles, with which we may take a took into any kinds of chemical reaction occurring at nanoscale. Several issues related to size estimation by SPMS will be discussed.