- Photomask 고해상도 검사기에서 설계 데이터 비교 알고리즘
- ㆍ 저자명
- 김회섭,오창석,안태완,Kim. Hoi-Sub,Oh. Chang-Seog,Ahn. Tae-Wan
- ㆍ 간행물명
- Journal of the Korean society for industrial and applied mathematics
- ㆍ 권/호정보
- 2006년|10권 1호|pp.1-9 (9 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국산업응용수학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
