본 논문에서는 VTCMOS(Variable-Threshold CMOS) 기법을 이용하는 초저전압 구동 논리 회로의 누설 전류 억제를 위한 기판 전압 발생회로를 제안한다. 제안하는 기판 전압 발생회로는 VSS 발생회로와 VBB 발생회로로 구성되어 있다. VSS 발생회로는 네거티브 전압을 발생시켜 VBB 발생회로에 공급하며, nB 발생회로는 공급받은 네거티브 전압을 이용하여 또 다른 네거티브 전압을 발생시킨다. 제안하는 회로의 동작을 검증하기 위해서 0.18um 1Poly-6Metal CMOS 공정을 사용하여 회로를 구현하였으며, 측정 결과 -0.95V의 기판 전압을 얻을 수 있었다. 제안한 기판 전압 발생회로를 이용함으로써, 0.5V의 전원 전압에서 동작하는 논리 회로의 누설 전류 성분을 효과적으로 줄일 수 있다.
This paper proposes substrate-bias voltage generator to reduce leakage power consumption of digital logic circuits operating at supply voltage of 0.5V. Proposed substrate-bias voltage generator is composed of VSS and VBB generator. The former circuit produces negative voltage and supplies its output voltage for VBB generator. As a result VBB generator develops much lower negative voltage than that of conventional one. Proposed circuit is fabricated using 0.18um 1Poly-6Metal CMOS process and measurement result demonstrated stable operation with substrate-bias voltage of -0.95V.
