본 논문에서는 자동결함검출 방법으로 도광판의 다양한 패턴에 나타나는 돌출, 함몰, 점 등과 같은 작은 결함들을 검출하기 위해 모폴로지의 닫힘, 열림 방법을 이용하는 템플레이트 검사 방법을 사용하였고, 얼룩, 스크래치와 같은 큰 결함을 검출하기 위해 영상에서 격자와 같은 일정한 블록을 형성하여 각 블록을 비교하여 결함을 찾는 블록매칭 방법을 사용하였다. 또한 일정한 패턴이 없는 도광판의 결함에 대해 결함을 검출할 수 있는 개선된 오쯔 방법을 이용하였다. 이 알고리즘을 적용한 결과 결함 검출에 좋은 성능이 있음을 보여준다. 제안된 알고리즘은 자체 개발한 장비에서 실제 도광판의 영상을 얻어 테스트 하였다.
In this paper, two methods based on the use of morphology and pattern matching prior to detect classified defects automatically on the back light unit which is a part of display equipments are proposed. One is the template check method which detects small size defects by using closing and opening method, and the other is the block matching method which detects big size defects by comparing with four regions of uniform blocks. The TC algorithm also can detect defects on the non-uniform pattern of BLU by using revised Otsu method. The proposed method has been implemented on the automatic defect detection system we developed and has been tested image data of BLU captured by the system.
