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두 위치 오류 현상의 직접적인 비교: Pulfrich 현상과 명멸 지체 효과
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  • 두 위치 오류 현상의 직접적인 비교: Pulfrich 현상과 명멸 지체 효과
  • Direct Comparison of Two Mislocalization Phenomena: The Pulfrich Phenomenon and Flash Lag Effect
저자명
감기택,Kham. Kee-Taek
간행물명
인지과학
권/호정보
2007년|18권 3호|pp.223-244 (22 pages)
발행정보
한국인지과학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

이차원 공간에서 운동 자극의 진행 방향으로 위치 오류가 발생되는 명멸 지체효과(Flash lag effect: FLE)와 깊이 방향의 위치 오류가 발생하는 Pulfrich 효과는 각각 독립적으로 연구되어 왔지만 현상적 이론적 유사점이 많다. 본 연구에서는 두 현상의 오류의 크기를 직접적으로 비교하여 두 현상이 동일한 기제에 의해 발생되었을 가능성을 살펴보았다. 보다 구체적으로 각 눈에 제시된 운동 자극의 FLE의 크기가 다를 때 이 차이가 양안시차로 작용하여 Pulfrich 효과의 깊이로 산출될 수 있는 지를 알아보았다. 각 눈에 제시되는 두 운동 자극의 밝기 비율을 네 수준(1:2, 1:3.3, 1:5, 1:10)으로 나눈 다음 이들 자극으로부터 발생되는 Pulfrich 효과의 깊이를 측정하였고, 동일한 실험 상황하에서 Pulfrich 효과의 깊이 측정에 사용되었던 다섯 수준의 자기 자극(1, 2, 3.3, 5, 10)의 FLE 크기를 각각 측정하였다. 본 연구에 포함된 밝기 차 조건하에서 Pulfrich 깊이는 밝기 비율이 커질수록 증가하는 데 반해, FLE의 크기는 큰 차이를 보이지 않았다. 또한 FLE의 차가 양안 시차로 작용한다면 그로부터 예상할 수 있는 Pulfrich 깊이와 실제 측정된 Pulfrich 효과의 깊이는 다른 것으로 나타났다. 이러한 결과는 두 현상이 동일한 기제에 의해서 발생되는 것이 아님을 시사한다.

기타언어초록

Two well known mis-localization effects, flash-lag effect (FLE) and the Pulfrich effect, have similar phenomena and theoretical explanations. In order to directly compare two phenomena, thereby examining the possibility that two phenomena have a common mechanism, the magnitudes of two effects were measured under the same experimental settings and stimuli. The Pulfrich depth was measured from each of four different brightness ratios of two moving stimuli, each of which was projected to each eye. The magnitude of FLE was measured from each of five different brightness levels, which were the same levels used in the Pulfrich experiment. The Pulfrich depth was increased with the increase of brightness ratio, whereas similar pattern was not found in the magnitude of FLE. Furthermore, actual Pulfrich depths were greatly different from those predicted from the difference of two FLEs. These results suggest that two phenomena may not have a common mechanism.