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GeSbTe 상변화 박막의 선택적 에칭 특성
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  • GeSbTe 상변화 박막의 선택적 에칭 특성
  • Selective Wet-Etching Properties of GeSbTe Phase-Change Films
저자명
김진홍,임정식,이준석,Kim. Jin-Hong,Lim. Jung-Shik,Lee. Jun-Seok
간행물명
정보저장시스템학회논문집
권/호정보
2007년|3권 3호|pp.118-122 (5 pages)
발행정보
정보저장시스템학회
파일정보
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주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Phase-change wet-etching technology using GeSbTe phase-change films is developed. Selective etching between an amorphous and a crystalline phase can be carried out with an alkaline etchant of NaOH. Etching selectivity is dependent not only on the concentration of the alkaline etchant but also on the film structure. Specifically, metal films for heat control cause marked effects on the etching properties of GeSbTe film. Surviving amorphous pits can be obtained with Al metal layer, however etched amorphous pits are seen with Ag metal layer. An opposite selective etching behavior can be observed between samples with two different metal layers.