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C0G 온도계수 특성을 가지는 고압용 적층 칩 캐패시티의 유전 및 내전압 특성
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  • C0G 온도계수 특성을 가지는 고압용 적층 칩 캐패시티의 유전 및 내전압 특성
저자명
윤중락,우병철,정태석,Yoon. Jung-Rag,Woo. Byong-Chul,Chung. Tae-Serk
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2008년|21권 2호|pp.137-143 (7 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

High voltage MLCCs with C0G temperature coefficient characteristics could apply DC-DC invertor were investigated for its dielectric properties. Also we manufactured MLCC through various process and studied the characteristics of dielectric break down voltage [BDV] and dielectric property as the variation of thickness in the green sheet and how to pattern the internal electrode. As the thickness of green sheet is increase, the dielectric BDV per unit thickness is decreased. But as the pattern of internal electrodes were floated we could manufacture the high voltage MLCC maintained its dielectric BDV a unit.