기관회원 [로그인]
소속기관에서 받은 아이디, 비밀번호를 입력해 주세요.
개인회원 [로그인]

비회원 구매시 입력하신 핸드폰번호를 입력해 주세요.
본인 인증 후 구매내역을 확인하실 수 있습니다.

회원가입
서지반출
반응성 마그네트론 스퍼터링법에 의한 Nickel Oxide 박막 제작 특성에 관한 연구
[STEP1]서지반출 형식 선택
파일형식
@
서지도구
SNS
기타
[STEP2]서지반출 정보 선택
  • 제목
  • URL
돌아가기
확인
취소
  • 반응성 마그네트론 스퍼터링법에 의한 Nickel Oxide 박막 제작 특성에 관한 연구
  • Characteristics of Nickel Oxide Thin Film Manufactured by Reactive Magnetron Sputtering Method
저자명
김기범,황윤식,김영식,박장식,Kim. Gi-Bum,Hwang. Yun-Sik,Kim. Yeung-Shik,Park. Jang-Sick
간행물명
반도체및디스플레이장비학회지
권/호정보
2008년|7권 1호|pp.29-34 (6 pages)
발행정보
한국반도체및디스플레이장비학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
서지반출

기타언어초록

In this paper, the DE(double erosion) cathode for the reactive magnetron sputtering system is developed for high deposition rate and high target utilization efficiency. The utilization efficiency of the developed DE cathode is 22% higher than that of normal SE(single erosion) cathode. Sputtering process for the nickel oxide thin films with the DE cathode is performed under the following conditions; power with $1kW{sim}3kW$, pressure with 4mtorr and 8mtorr, oxygen flow ratio with $0%{sim}80%$. As a result, the hysteresis phenomenon of discharge voltage in 4mtorr is lower than that in 8mtorr and the hysteresis phenomenon of discharge voltage is getting lower as the applied power is getting higher. The structure of cross section and surface roughness of the thin films are observed by FE-SEM and AFM. The structure of cross section of the thin films is columnar and the average surface roughness under oxygen flow ratio of 0%, 52.5% and 65.0% are $2.08{AA}$, $2.20{AA}$ and $0.854{AA}$, respectively.