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Micro-TEM Cell을 사용한 표준 전자기장의 발생 및 측정불확도 평가
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  • Micro-TEM Cell을 사용한 표준 전자기장의 발생 및 측정불확도 평가
저자명
강진섭,김정환,강웅택,강노원,강태원,Kang. Jin-Seob,Kim. Jeong-Hwan,Kang. Ung-Taek,Kang. No-Weon,Kang. Tae-Weon
간행물명
韓國電磁波學會論文誌
권/호정보
2009년|20권 1호|pp.91-99 (9 pages)
발행정보
한국전자파학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
서지반출

기타언어초록

본 논문에서는 micro-TEM cell을 사용한 표준 전자기장 발생법을 기술하고 측정불확도를 평가하였다. 표준 전자기장 발생 시스템은 auto-leveling 기능을 가진 신호발생부, 최대 1.2 GHz까지 동작하는 micro-TEM cell, 서미스터 마운트를 사용한 전력측정부로 구성된다. 표준 전자기장 발생법의 타당성을 보이기 위해 $10;MHz{sim}1;GHz$ 대역에서 전자기장의 세기 20 V/m에 대해 실시된 전자기장의 세기 국제비교(CCEM.RF-K20)의 참여 결과를 제시하였다.

기타언어초록

In this paper, a standard field generation method using a micro-TEM ceil is described and its measurement uncertainty is evaluated. The standard field generation system consists of an auto-leveling signal source, a micro-TEM cell operating up to 1.2 GHz, and a power measuring Instrument using a thermistor mount. Measurement results of a field strength key comparison (CCEM.RF-K20) for the field strength of 20 V/m at frequencies between 10 MHz and 1 GHz are presented for validating the standard field generation method.