저전력 환경에서의 메모리 집적도가 증가함에 따라 메모리는 soft error에 매우 민감해졌다. 오류 정정 코드는 일반적으로 양산 이후 메모리의 soft error를 수정하기 위해서 사용된다. 본 논문에서는 새로운 저전력 오류 정정 코드의 설계방법을 제안한다. 오류 정정 코드의 전력소비는 parity check 행렬의 선택을 통해 최소화 될 수 있다. 따라서 오류 정정 코드의 설계는 비선형 최적화 문제로 포함되는데 우리는 다양한 유전 연산자를 포함하는 유전자 알고리즘을 이용하여 이 문제를 해결한다. 제안하는 방법을 Hamming code와 Hsiao code에 적용하여 그 효율성을 입증하였다.
The memory is very sensitive to the soft error because the integration of the memory increases under low power environment. Error correcting codes (ECCs) are commonly used to protect against the soft errors. This paper proposes a new genetic ECC design method which reduces power consumption. Power is minimized using the degrees of freedom in selecting the parity check matrix of the ECCs. Therefore, the genetic algorithm which has the novel genetic operators tailored for this formulation is employed to solve the non-linear power optimization problem. Experiments are performed with Hamming code and Hsiao code to illustrate the performance of the proposed method.
