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패턴이 있는 유리기층 위 러빙된 Polyimide의 광학 이방성 미세변화 정밀 측정
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  • 패턴이 있는 유리기층 위 러빙된 Polyimide의 광학 이방성 미세변화 정밀 측정
저자명
김하랑,김상열,Kim. Ha-Rang,Kim. Sang-Youl
간행물명
한국광학회지
권/호정보
2009년|20권 5호|pp.281-287 (7 pages)
발행정보
한국광학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

편광법을 사용하여 패턴이 있는 LCD 유리기층위에 놓여 있는 러빙된 PI(polyimide)의 광학이방성을 분석하였다. 투과형 편광계를 사용하여 0.4 nm 이하의 극히 작은 위상지연의 크기와 광축의 방향을 정밀하게 측정하였다. 온도에 따르는 광학이방성의 미세변화를 위상지연의 크기 및 광축 방향의 변화곡선으로 나타내고 간단한 광학모델을 사용하여 설명하였다.

기타언어초록

The optical anisotropy of rubbed PI(polyimide) film on patterned LCD glass substrate is analyzed using polarimetry. The direction of the optic axis and the magnitude of the very small retardation ($sim$ 0.4 nm or less) is precisely measured by using a transmission ellipsometer. The variation of the optical anisotropy is presented as the curve of the optic axis versus the magnitude of the phase retardation and it is explained by using a simple optical model.