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관통형 비아가 있는 다층 PCB의 SI 성능 연구
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  • 관통형 비아가 있는 다층 PCB의 SI 성능 연구
저자명
김리진,이재현,Kim. Li-Jin,Lee. Jae-Hyun
간행물명
韓國電磁波學會論文誌
권/호정보
2010년|21권 2호|pp.188-193 (6 pages)
발행정보
한국전자파학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

본 논문은 관통형 비아와 전송 선로 사이의 임피던스 불연속과 P/G(Power/Ground) 면 사이에서 발생되는 공진으로 인한 클록 신호 응답 성능 저하가 관통형 비아(through-hole via)가 있는 4층 PCB(Printed Circuit Boards)의 SI(Signal Integrity) 성능에 악영향을 미치는 것을 이론적으로 분석하였다. 비아 구조의 집중소자 모델링을 이용한 반사 전압 계산과 TDR(Time Domain Reflector) 시뮬레이션 결과 비교로 관통형 비아와 전송 선로 사이의 임피던스 불연속 최소화 시킬 수 있고, 관통형 비아 위치를 이용한 P/G면 공진 상쇄의 시뮬레이션 결과로 클록 신호 응답 성능을 향상시킬 수 있음을 확인하였다.

기타언어초록

In this paper, SI(Signal Integrity) characteristic of the 4-layer PCB(Printed Circuit Boards) with a through-hole via was analyzed by impedance mismatching between the through-hole via and the transmission line, and deterioration of clock pulse response characteristic due to the P/G plane resonances which are generated between the power and the ground plane. The minimized impedance mismatching between the through-hole via and the transmission line for the improving of SI characteristic is confirmed by the TDR(Time Domain Reflector) simulation and lumped element modeling of the through-hole via. And the cancellation method of P/G plane resonances for improvement of the SI characteristic is represented by simulation result.