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Goodness-of-fit test for the half logistic distribution based on multiply Type-II censored samples
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  • Goodness-of-fit test for the half logistic distribution based on multiply Type-II censored samples
  • Goodness-of-fit test for the half logistic distribution based on multiply Type-II censored samples
저자명
Kang. Suk-Bok,Cho. Young-Seuk,Han. Jun-Tae,SaKong. Jin
간행물명
한국데이터정보과학회지
권/호정보
2010년|21권 2호|pp.317-325 (9 pages)
발행정보
한국데이터정보과학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, we develop four modified empirical distribution function (EDF) type tests using approximate maximum likelihood estimators for the half-logistic distribution based on multiply Type-II censored samples. We also propose modified normalize sample Lorenz curve polt and new test statistics. We compare the above test statistics in the sense of the power for various censored samples. We present an example to illustrate this method.