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Differential Fault Analysis for Round-Reduced AES by Fault Injection
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  • Differential Fault Analysis for Round-Reduced AES by Fault Injection
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저자명
Park. Jea-Hoon,Moon. Sang-Jae,Choi. Doo-Ho,Kang. You-Sung,Ha. Jae-Cheol
간행물명
ETRI journal
권/호정보
2011년|33권 3호|pp.434-442 (9 pages)
발행정보
한국전자통신연구원
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper presents a practical differential fault analysis method for the faulty Advanced Encryption Standard (AES) with a reduced round by means of a semi-invasive fault injection. To verify our proposal, we implement the AES software on the ATmega128 microcontroller as recommended in the standard document FIPS 197. We reduce the number of rounds using a laser beam injection in the experiment. To deduce the initial round key, we perform an exhaustive search for possible key bytes associated with faulty ciphertexts. Based on the simulation result, our proposal extracts the AES 128-bit secret key in less than 10 hours with 10 pairs of plaintext and faulty ciphertext.