디지털 X-ray 영상 디텍터는 의료용 및 산업용으로 널리 이용되고 있다. 직접방식(direct method)의 디지털 X-ray 영상 디텍터는 X-ray 에너지를 전기적 신호로 변환하기 위하여 광도전체(photoconductor)를 이용하며 일반적으로 비정질 셀레늄(a-Se)을 사용하고 있다. 본 연구는 비정질 셀레늄 표면에 파장 486 nm의 전자방사선을 조사할 경우 내부에서 일어나는 물리적 현상들을 분석하기 위하여 2차원 소자 시뮬레이터을 이용하였다. 시뮬레이션 결과를 통해 비정질 셀레늄 내부 전자-정공 생성율, 전자-정공 재결합율, 전자/정공 분포에 대한 분석을 수행하였다. 사용된 시뮬레이터는 디바이스 내부를 삼각형으로 나누어 보간법을 사용하여 계산하는 방식이다. 본 시뮬레이션 방법은 직접방식 디지털 X-ray 영상 디텍터 분석을 위하여 처음으로 제안되었고 유용한 방법이다. 이러한 2차원 소자 시뮬레이터를 이용한 연구방법은 향후 디지털 방사선 영상 디텍터 개발에 많이 응용될 것으로 예상된다.
Digital X-ray image detector has been applied for medical and industrial fields. Photoconductors have been used to convert the X-ray energy to electrical signal on the direct digital X-ray image detector and amorphous selenium (a-Se) has been used as a photoconductor, normally. In this work, we use 2-dimensional device (2-D) simulator to study about physical phenomena in the a-Se, when we irradiate electromagnetic radiation (${lambda}=486nm$) on the a-Se surface. We evaluate the electron-hole generation rate, electron-hole recombination rate, and electron/hole distribution in the a-Se using 2-D simulator. This simulator divides the device into triangle and calculates using interpolation method. This simulation method has been proposed for the first time and we expect that it will be applied for the development of digital X-ray image detector.
