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High-efficiency BIRA for embedded memories with a high repair rate and low area overhead
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  • High-efficiency BIRA for embedded memories with a high repair rate and low area overhead
  • High-efficiency BIRA for embedded memories with a high repair rate and low area overhead
ㆍ 저자명
Lee. Joo-Hwan,Park. Ki-Hyun,Kang. Sung-Ho
ㆍ 간행물명
Journal of semiconductor technology and science
ㆍ 권/호정보
2012년|12권 3호|pp.266-269 (4 pages)
ㆍ 발행정보
대한전자공학회
ㆍ 파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
ㆍ 주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

High-efficiency built-in redundancy analysis (BIRA) is presented. The proposed BIRA uses three techniques to achieve a high repair rate using spare mapping registers with adjustable fault tags to reduce area overhead. Simulation results show that the proposed BIRA is a reasonable solution for embedded memories.

키워드

Built-in redundancy analysisrepair ratearea overheadembedded memory

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